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从样品基质中去除高水平的碱土金属和过渡金属,并中和诸如氢氧化钠或碳酸钠等高碱性样品。然后可以通过对样品进行鼓泡来去除碳酸盐。赛默飞世尔科技™ Dionex™ OnGuard™ II H 柱是一种离线样品前处理技术,它消除了这些基质干扰以提高离子色谱(IC)性能并促进低水平离子分析。单独或连续使用它们,或者使用可选的赛默飞世尔科技 Dionex OnGuard 样品前处理站对多达 12 个样品进行平行预处理。
从样品基质中去除高水平的碱土金属和过渡金属,并中和诸如氢氧化钠或碳酸钠等高碱性样品。然后可以通过对样品进行鼓泡来去除碳酸盐。赛默飞世尔科技™ Dionex™ OnGuard™ II H 柱是一种离线样品前处理技术,它消除了这些基质干扰以提高离子色谱(IC)性能并促进低水平离子分析。单独或连续使用它们,或者使用可选的赛默飞世尔科技 Dionex OnGuard 样品前处理站对多达 12 个样品进行平行预处理。


