Dionex/戴安 | OnGuard™ II H Cartridges/OnGuard H柱 | OnGuard II H 柱芯，1-cc

从样品基质中去除高水平的碱土金属和过渡金属，并中和诸如氢氧化钠或碳酸钠等高碱性样品。然后可以通过对样品进行鼓泡来去除碳酸盐。赛默飞世尔科技™ Dionex™ OnGuard™ II H 柱是一种离线样品前处理技术，它消除了这些基质干扰以提高离子色谱（IC）性能并促进低水平离子分析。单独或连续使用它们，或者使用可选的赛默飞世尔科技 Dionex OnGuard 样品前处理站对多达 12 个样品进行平行预处理。